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回路電阻測(cè)量壓降法與電橋法的差異

回路電阻測(cè)量壓降法與電橋法的差異

摘要：斷路器觸頭接觸電阻的測(cè)量中，長(zhǎng)期使用電橋法。用電橋法測(cè)出的電阻與實(shí)際工作狀態(tài)下的回路電阻值有較大的差異。而采用直流壓降法進(jìn)行測(cè)量科學(xué)而準(zhǔn)確。
關(guān)鍵詞：斷路器?觸頭接觸電阻?電阻測(cè)量
斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻，接觸電阻又由收縮電阻和表面電阻兩部分組成。由于兩個(gè)導(dǎo)體接觸時(shí)，因其表面非**的光滑、平坦只能在其表面上的一些點(diǎn)上接觸，使導(dǎo)體中的電流線在這些接觸處劇烈收縮，實(shí)際接觸面積大大縮小，而電阻增加，此原因引起的接觸電阻稱(chēng)為收縮電阻?另由于各導(dǎo)體的接觸面因氧化、硫化等各種原因會(huì)存在一層薄膜，該薄膜使接觸過(guò)渡區(qū)域的電阻增大，此原因引起的接觸電阻稱(chēng)為表面電阻(或膜電阻)。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體的通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力，也是反映安裝檢修質(zhì)量的重要數(shù)據(jù)。
斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量，是在斷路器處于合閘狀態(tài)下，采用直流電壓降法進(jìn)行測(cè)量，常用的測(cè)量方式有電壓降法(電流—電壓表法)和微歐儀法：
1電壓降法
在被測(cè)回路中，通以直流電流時(shí)，在回路接觸電阻上將產(chǎn)生電壓降，測(cè)出通過(guò)回路的電流值及被測(cè)回路上的電壓降，根據(jù)歐姆定律計(jì)算出接觸電阻。其中：①回路通入的直流電流(至少應(yīng)是單相全波整流)值不小于 100 A?② 測(cè)量應(yīng)選用反映平均值(如電磁式)的儀表，測(cè)量表計(jì)等的精度不低于0.5 級(jí)?③ 毫伏表接在被測(cè)回路內(nèi)側(cè)在電流回路接通后再接入，并防止測(cè)量中斷路器突然分閘或測(cè)量回路突然開(kāi)斷損壞毫伏表。
2微歐儀法
微歐儀的工作原理仍是直流電壓降法，通常采用交流 220 V 電壓整流后，通過(guò)開(kāi)關(guān)電路轉(zhuǎn)換為高頻電流，*后再整流為 100 A的低壓直流，用作測(cè)量電源。具有自動(dòng)恒流，數(shù)顯測(cè) 試電流值和回路電阻值。測(cè)量時(shí)，微歐儀內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)電阻分流器(Rf)與被測(cè)回路電阻(Rx)呈串聯(lián) 關(guān)系，有Ux/Rx＝Uf/Rf＝I，即Rx＝(Ux/Uf)×Rf，所以即使測(cè)量通入的電流值稍有偏離 100A，也不影響測(cè)量結(jié)果。
由前述可知，斷路器觸頭的接觸電阻是由表面電阻(膜電阻)和收縮電阻組成。當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜，測(cè)出的電阻示值偏大，但氧化膜在大電流下很容易被燒壞，不妨礙正常電流通過(guò)。又當(dāng)觸頭因調(diào)整不當(dāng)(如觸頭壓力變化)、運(yùn)行中發(fā)生變化或觸頭燒損嚴(yán)重等使有效接觸面積減小時(shí)，雙臂電橋的微弱電流線在其接觸處不會(huì)產(chǎn)生收縮，即無(wú)法測(cè)出收縮電阻，而在大電流或正常工作電流通過(guò)時(shí)，就會(huì)使該接觸處的電阻增加，引起觸頭的過(guò)度發(fā)熱和加速氧化。對(duì)此GB763、DL405 等標(biāo)準(zhǔn)均已明確規(guī)定，測(cè)試采用直流電壓降法，通入的電流不得小于 100A。所以電橋法和直流電壓降法的測(cè)量結(jié)果是有差別的，壓降法更能反映斷路器的實(shí)際工作狀況。
至今為止還有許多單位仍在采用電橋法進(jìn)行回路電阻的測(cè)試，希望能盡快采用電壓降法，或配置微歐儀，滿(mǎn)足正確的測(cè)量要求。另外，對(duì)測(cè)量用的表計(jì)或微歐儀，也應(yīng)按有關(guān)規(guī)定定期進(jìn)行送檢或測(cè)試，以保證測(cè)量的正確。

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