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電工電子產??環(huán)境試驗設備檢驗方法你知道多少呢？

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法你知道多少呢？

電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

標準簡介

本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設備的**檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術內容主要有如下變化：———標準名稱“電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設備”更改為“電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
———增加了“術語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗項目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；
———增加了“噪聲”檢驗項目；
———刪除了“相對濕度”檢驗項目；
———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度（k＝２）的要求
———增加了“檢驗負載”一章；
———修改了“溫度變化速率”的計算方法；
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
———刪除了“檢定過程中的處理”部分；
———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；
———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。

前言

GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
---GB/T5170.17-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法水試驗設備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術內容主要有如下變化:
---標準名稱電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備更改為電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備;
---所有用詞檢定更改為檢驗;
---增加了術語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗項目;
---增加了溫度均勻度檢驗項目;
---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目;
---增加了溫度指示誤差檢驗項目;
---增加了溫度過沖量檢驗項目;
---增加了溫度過沖恢復時間檢驗項目;
---增加了噪聲檢驗項目;
---刪除了相對濕度檢驗項目;
---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度(k=2)的要求;
---增加了檢驗負載一章;
---修改了溫度變化速率的計算方法;
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇;
---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由國內電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。

宏展儀器專業(yè)生產經營:紫外光耐氣候試驗箱；紫外線加速耐候試驗機；高低溫交變濕熱試驗箱；可程式恒溫恒濕試驗機；溫濕度檢定箱；高低溫恒溫試驗箱；高低溫沖擊試驗箱；蓄溫式冷熱沖擊試驗機；步入式環(huán)境實驗室/試驗艙；步入式恒溫恒濕試驗室；精密烘箱；鹽水噴霧試驗機；模擬運輸試驗機；蒸汽老化試驗機；跌落試驗機；快速溫變|應力篩選試驗機[ESS]；其他環(huán)境試驗設備
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