放射**技術是利用放射性核素分析的高靈敏性、**性與抗原抗體反應的高特異性相結合而創建的一類標記**技術。它的基本原理主要包括：①以放射性核素標記抗原與反應系統中的待測抗原競爭結合限量抗體，來測定待濺樣品中抗原量的放射**分析(RIA)；②用標記的過量抗體與待測抗原非競爭性結合，采用固相**吸附載體分離結合與游離標記抗體的**放射分析(1RMA)。

 

    采用放射性核素標記抗體作標記物、  固相抗體分離技術的IRMA， 由于抗體過量，待測抗原與之結合屬非競爭性， 因此其測定靈敏度、反應速率及測定范圍均優于RIA。而且雙抗體可結合不同的抗原決定簇，提高檢測的特異性。